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鹽霧試驗(yàn)箱對集成電路芯片的危害性

作者:林頻儀器 / 2023-09-12 14:10 / 
  鹽霧試驗(yàn)箱是一種用于環(huán)境監(jiān)測和海洋氣候的耐腐蝕試驗(yàn)設(shè)備。適用于電氣設(shè)備、復(fù)合材料、各種工件表面、噴漆工藝、工業(yè)涂料、電鍍、無機(jī)分析、化學(xué)皮等。后處理,如脫硫劑蝕刻、腐蝕試驗(yàn)等工序。比較了自然界中腐蝕的成分及其對電子產(chǎn)品的影響,并對電子設(shè)備、設(shè)備、元器件和材料的鹽霧試驗(yàn)參數(shù)進(jìn)行了比較。基于鹽霧試驗(yàn)箱的應(yīng)用領(lǐng)域,通過對元器件、材料、電子器件和整機(jī)的逐步檢驗(yàn),簡要介紹了提高和評價(jià)電子設(shè)備長期抗鹽霧性能的研究思路。
鹽霧試驗(yàn)箱對集成電路芯片的危害性
  在空氣中,含鹽細(xì)液組成的擴(kuò)散系統(tǒng)指的是耐腐蝕性。據(jù)國家統(tǒng)計(jì),各類飛機(jī)現(xiàn)場故障中約有50%是由環(huán)境造成的。其中,溫度占40%,振動占27%,冷濕占19%,風(fēng)沙占5%,耐腐蝕占4%??梢灾溃诮?0個(gè)環(huán)境因素中,耐腐蝕性排在前五位,是一個(gè)不可忽視的破壞因素。
 
  近年來,專家們廣泛使用鹽霧試驗(yàn)箱來探索耐腐蝕性對集成電路芯片、雷達(dá)天線罩等產(chǎn)品的影響。研究結(jié)果表明,由于電化學(xué)腐蝕,集成電路芯片還會產(chǎn)生腐蝕性氣體,破壞電源的表面特性。同時(shí),它與材料和氣密性有一定的關(guān)系。當(dāng)外包裝的密封性能較好時(shí),只有電源線受到塑料包裝制品和環(huán)保包裝的腐蝕影響,而陶瓷包裝受腐蝕影響很大。耐腐蝕性顯著增強(qiáng)了雷達(dá)波通信天線的反射表面。形成的閃光瓣也會引起虛擬警報(bào),減少覆蓋墻的散射,并在雷達(dá)探測中產(chǎn)生盲點(diǎn)。
 
  目前,鹽霧試驗(yàn)箱可以實(shí)現(xiàn)多種鹽霧試驗(yàn)方法,針對不同的應(yīng)用領(lǐng)域。一般可分為設(shè)備級、部件級和原材料級。科學(xué)研究資料表明,各個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的耐腐蝕參數(shù)范圍是相同的,但由于應(yīng)用領(lǐng)域不同,測試標(biāo)準(zhǔn)也有所不同。有耐腐蝕和干燥變化、耐腐蝕和冷濕變化等的連續(xù)式噴霧器。至此,我們也了解了耐腐蝕環(huán)境對集成電路芯片造成的損害。本試驗(yàn)設(shè)備已成為各行業(yè)常用的耐腐蝕檢測儀器。
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